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霍梅爾Hommel 粗糙度測(cè)量?jī)xWaveline W5適用于進(jìn)行移動(dòng)式粗糙度測(cè)量的測(cè)量?jī)x
三維掃描儀的數(shù)據(jù)采集方法,即三維表面數(shù)據(jù)采集方法,可以分為接觸式和非接觸式
在被測(cè)元素和基準(zhǔn)元素上測(cè)量多個(gè)橫截面的圓,再將這些圓的圓心構(gòu)造一條3D直線
粗糙度儀又叫表面粗糙度儀、表面光潔度儀、表面粗糙度檢測(cè)儀、粗糙度測(cè)量?jī)x、粗糙度計(jì)、
輪廓儀是對(duì)物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測(cè)試與檢驗(yàn)的儀器
Hommel-Etamic T8000 RC 測(cè)量?jī)x包括兩個(gè)不同的探測(cè)系統(tǒng)
Jenoptik在加拿大安大略省的擴(kuò)張,是客戶對(duì)其產(chǎn)品和服務(wù)需求日益攀升的直接結(jié)果
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)做為一種精密的測(cè)量?jī)x器,如果維護(hù)及保養(yǎng)做得及時(shí),就能延長(zhǎng)機(jī)器的使用壽命
粗糙度儀測(cè)量值與樣板值之差大于儀器規(guī)定的誤差范圍
半徑測(cè)量示值誤差是指將標(biāo)準(zhǔn)球或標(biāo)準(zhǔn)半球放置于輪廓儀工作臺(tái)上