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Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)可滿足極高的自動(dòng)化要求,它們以重復(fù)精度提供工件的精密測(cè)量數(shù)據(jù)。業(yè)納專為自動(dòng)化應(yīng)用環(huán)境設(shè)計(jì)了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列軸類光學(xué)測(cè)量機(jī)
德國(guó)業(yè)納Jenoptik集團(tuán)軸類件光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)Opticline 系統(tǒng)提供多項(xiàng)智能自動(dòng)監(jiān)測(cè)功能,以便持續(xù)執(zhí)行質(zhì)量。此外,這些系統(tǒng)在質(zhì)量參數(shù)的可追溯性和記錄方面樹立了新標(biāo)準(zhǔn)。
德國(guó)霍梅爾Hommel-Etamic W20粗糙度儀無(wú)導(dǎo)頭型探測(cè)系統(tǒng)專為執(zhí)行移動(dòng)式粗糙度測(cè)量而設(shè)計(jì)。它不僅測(cè)量所有常見的粗糙度參數(shù),而且評(píng)估工件表面的波度和總輪廓
在檢測(cè)空間一固定點(diǎn)時(shí)關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)完全不同,在測(cè)頭確定情況下直角坐標(biāo)測(cè)量機(jī)各軸的位置X,Y,Z 對(duì)固定空間點(diǎn)是確定并唯一的;關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)有各種各樣的方法使用各臂對(duì)測(cè)頭測(cè)量一個(gè)固定空間點(diǎn)
業(yè)納Jenoptik 已開發(fā)出新一代的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),使生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制更加容易。多年來(lái),Opticline 系列測(cè)量系統(tǒng)在光學(xué)軸測(cè)量技術(shù)上樹立了標(biāo)桿
Hommel-Etamic W20 表面粗糙度測(cè)量?jī)x測(cè)量探頭會(huì)自動(dòng)定位在工件表面上。機(jī)動(dòng)化的探頭降低功能可簡(jiǎn)化操作 - 您只需定位掃描單元,然后開始測(cè)量。在完成測(cè)量時(shí),探臂會(huì)自動(dòng)從工件抬起
關(guān)節(jié)式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)按理論來(lái)說(shuō),可以測(cè)量任何工件的任何幾何元素的任何參數(shù)。不過在實(shí)際的應(yīng)用中,受技術(shù)、環(huán)境、軟件、硬件等一系列的因素的影響,往往與理論存在一定的差距
軸類光學(xué)測(cè)量機(jī)在工業(yè)測(cè)量領(lǐng)域的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。軸類光學(xué)測(cè)量機(jī)不僅測(cè)量精度高,操作也十分簡(jiǎn)便。
三維掃描儀(3D scanner) 的主要作用是通過對(duì)物體和環(huán)境的3D掃描來(lái)獲得相關(guān)的具體數(shù)據(jù)資料。它將搜集到的信息進(jìn)行三維建模處理,可以得到很直觀有效的三維數(shù)字模型
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的關(guān)閉步驟對(duì)儀器的維護(hù)非常重要。在對(duì)工件測(cè)量完畢后,測(cè)量?jī)x應(yīng)按照正確的步驟進(jìn)行關(guān)閉。只有在日常的使用過程中,我們按照正確的步驟進(jìn)行關(guān)閉,才能使關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量精確,使用壽命延長(zhǎng)